Producator: NANONICS IMAGING LTD
Model: MultiView 4000SPM/NSOM
Anul de productie: 2015
Descriere:
Sistemul include 2 scanere piezo plate pentru vârf şi probă
Capul de scanare are următoarele caracteristici:
- Domeniu scanare laterală: 85 microni
- Domeniu scanare axială: 85 microni
- Deschidere centrală: 24mm
- Suport de probă cu scanare XYZ >30 microni.
Feedback pe amplitudine si faza cu monitorizare independenta a amplitudinii
Scanare in adincime de pina la 30 microni
Utilizarea feedback-ului de forta atomica la forta normala fara interferente optice
Masa antivibratie si incinta de separare de mediul exterior pentru asigurarea functionalitatii sistemului ca un microscop AFM
